BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008

THz-TDS背景知识

基于超短THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪（Terahertz timedomain spectroscopy, THz-TDS）技术，是本世纪80年代由AT&T贝尔实验室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究中心（IBM Thomas J.Watson Research Center）先提出的。BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008技术属于电磁辐射位相相干探测技术，是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量，获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换，获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此，THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。

  BATOP公司介绍

  BATOP成立于2003年，是一家隶属于德国耶拿大学的私人新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队，使得其公司产品具有超高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里，BATOP一直致力于太赫兹光电导天线（PCA）和太赫兹时域光谱仪系统（THz-TDS）的研发。BATOP不仅提供单带隙天线，还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪TDS10008性能稳定，各项参数，功能多样：可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品， 其研发设计理念始终从客户的角度出发，更好的满足他们的需求。

Batop太赫兹时与光谱仪THz TDS1008实测THz信号：

产品特性：

内置样品仓，可充氮气进行透反射测量

规格多样的外置光纤耦合天线可选

外置角度扫描装置可选

外置成像模块可选

T3DS软件支持

TDS10XX各型号参数规格：

TDS10XX可选配件：

快速扫描模块FSU

光纤耦合天线对2FCA

成像模块IU（电机行程可选375px、750px 、1125px）

角度扫描模块T2T

透射样品架SHT（放在样品仓内，用于透射谱测试）

反射样品架SHR（放在样品仓内，用于反射谱测试）

光纤耦合天线样品架SHF（可测试透射反射谱）

衰减全反射样品架SHA（用于衰减全反射ATR测试）

2欧元成像：

BATOP太赫兹时与光谱仪THz-TDS1008安装现场