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BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008

上海屹持光电技术有限公司

企业性质生产商

入驻年限第3年

营业执照已审核
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THz-TDS背景知识

基于超短THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪(Terahertz timedomain spectroscopy, THz-TDS)技术,是本世纪80年代由AT&T贝尔实验室(AT&T Bell Laboratories)和IBM公司的T.J.Waston研究中心(IBM Thomas J.Watson Research Center)先提出的。BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008技术属于电磁辐射位相相干探测技术,是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量,获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换,获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此,THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。

  BATOP公司介绍

  BATOP成立于2003年,是一家隶属于德国耶拿大学的私人新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队,使得其公司产品具有超高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里,BATOP一直致力于太赫兹光电导天线(PCA)太赫兹时域光谱仪系统(THz-TDS)的研发。BATOP不仅提供单带隙天线,还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪TDS10008性能稳定,各项参数,功能多样:可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品, 其研发设计理念始终从客户的角度出发,更好的满足他们的需求。


Batop太赫兹时与光谱仪THz TDS1008实测THz信号:


产品特性:


内置样品仓,可充氮气进行透反射测量


规格多样的外置光纤耦合天线可选


外置角度扫描装置可选


外置成像模块可选


T3DS软件支持


TDS10XX各型号参数规格:


型号TDS1008 TDS1010 TDS1015
光谱范围0.05 4 THz 0.05  2.5 THz 0.05  2 THz
动态范围>75 dB > 60 dB > 50 dB
扫描范围(频谱分辨率)500 ps (2 GHz resolution)
太赫兹光束直径22 mm (准直) / 1-3 mm (聚焦)
仪器尺寸(cm3)90×60×3060×60×3060×60×30


TDS10XX可选配件:

快速扫描模块FSU


光纤耦合天线对2FCA



成像模块IU(电机行程可选375px、750px 、1125px)



角度扫描模块T2T



透射样品架SHT(放在样品仓内,用于透射谱测试)


反射样品架SHR(放在样品仓内,用于反射谱测试)



光纤耦合天线样品架SHF(可测试透射反射谱)


衰减全反射样品架SHA(用于衰减全反射ATR测试)


2欧元成像:


BATOP太赫兹时与光谱仪THz-TDS1008安装现场




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