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企业性质生产商
入驻年限第8年
产品简介
采用FBRM 技术的 ParticleTrack G600 是直接插入到大型容器或管道中的坚固探头式仪器，以便在全工艺过程浓度下实时追踪颗粒粒径及粒数变化。 随着过程参数的变化，持续监测颗粒、颗粒结构和液滴允许工程师有效地监控、解决并改进过程。
颗粒粒径与粒数直接影响多相工艺中的性能，包括：
结晶
乳化
絮凝
通过在全生产规模下实时监测颗粒粒径与粒数，工程师可以监控过程的一致性并确定进行过程改进的策略。
在为离线分析进行采样和制备时，颗粒可能发生变化。 通过追踪过程中自然存在的颗粒粒径与粒数的变化，工程师能够在全生产规模下安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在极端温度与压力条件下。
随着操作条件的变化，通过连续监测颗粒，能够确定过程性能不佳的根本原因。 操作人员可以快速识别过程扰动，工程师可以利用在全生产规模下获得的证据，重新设计具有挑战性的过程并加以改进。
灵活的安装系统允许在各种温度和压力下，使用标准法兰、套管和球阀在反应器或管道中安装探头。 额定为 ATEX 和 I 级 1 区标准的可选吹扫外壳确保仪器可以在易爆场所进行安全安装。
技术参数
| 测量范围 | 0.5 – 2000μm |
| 温度范围（主机/现场装置） | G600： 0至45°C; G600Ex： 0至40°C |
| 主机说明 | 不锈钢 316, 防水防尘4X, IP66级 |
| 主机尺寸(高x宽x长) | 524 mm x 828 mm x 284 mm |
| 认证 | CE 认证， 1 类激光， NRTL 认证， CB Scheme 认证 |
| 电源要求 | 100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A |
| 适用于 | 中试工厂或生产 |
| 软件 | iC FBRM （标准）; 用于 FBRM 的 iC Process （可选） |
| 扫描系统 | 气动 |
| 扫描速度 | 2m/s |
| 弦长选择方法(CSM) | Primary（精细）和 Macro（粗糙） |
| 探头直径 | 25mm |
| 探头浸湿长度 | R: 400mm; T: 400m; P: 1000mm; X: 自定义 |
| 探头浸湿合金 | SS316 （标准）; C22 （可选） |
| 窗口(W) | 蓝宝石 |
| 标准窗口封条 | Kalrez® |
| 探头/窗口选件 | TM 窗口; 电抛光 |
| 额定压力（探头） | 10barg （标准）; 高达 250barg （自定义） |
| 额定温度（探头） | -10 至 120°C （标准）; -80 至 150°C （自定义） |
| 导管长度 | 15m [49.2ft] （标准）; 20m [65.6ft]（自定义） |
| 空气要求 | 扫描仪要求： 最小压力： 4barg [60psig]; 流量： 28.3 NL/min [1.0SCFM] |
| ParticleTrack型号 | 适用于中试工厂/生产的 ParticleTrack G600 加工技术 |
| G600认证 | CE 认证， 1 类激光， NRTL 认证， CB Scheme 认证 |
| G600Ex认证 | ATEX / IECEx Zone 1/21和Class 1 Div 1认证、CE认证、1级激光设备、NRTL认证 |
| 吹扫要求（仅G600 Ex） | 压力： 4至8barg（60-120 psig）; 流量： 225 SLPM（8.0 SCFM） |
| 物料号 (s) | 14422846, 14422847 |
功能特点
科研人员利用ParticleTrack确定如何始终如一地提供具有所需粒径和粒数的颗粒。 在研发到放大生产直至投付生产的过程中，通过选择**的工艺参数，科研人员可以较低的总成本将高质量颗粒产品更快速推向市场，并通过基于数据的方法实现改进。
借助 ParticleTrack将过程与颗粒系统相关联
，科学家可以定期确定过程参数如何影响颗粒系统。 可以确定过程参数对生长、团聚、破损和形状变化等机制的影响，从而可以使用基于证据的方法对过程进行优化和改进。
实时研究颗粒粒径与粒数
科学家将 ParticleTrack 探头直接插入到过程流体中，以长时间连续监测颗粒粒径与粒数，而无需采样。 这种独特的信息成为有效了解涉及晶体、颗粒和液滴的过程的基础。
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