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梅特勒-托利多实时粒径与粒数分析仪 ParticleTrack G400

梅特勒托利多科技(中国)有限公司

企业性质生产商

入驻年限第8年

营业执照已审核
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产品简介

ParticleTrack G600/G600 Ex

在中试和生产中监控粒度和粒数

采用FBRM 技术的 ParticleTrack G600 是直接插入到大型容器或管道中的坚固探头式仪器,以便在全工艺过程浓度下实时追踪颗粒粒径及粒数变化。 随着过程参数的变化,持续监测颗粒、颗粒结构和液滴允许工程师有效地监控、解决并改进过程。

颗粒粒径与粒数直接影响多相工艺中的性能,包括:

  • 结晶

  • 乳化

  • 絮凝

通过在全生产规模下实时监测颗粒粒径与粒数,工程师可以监控过程的一致性并确定进行过程改进的策略。

在为离线分析进行采样和制备时,颗粒可能发生变化。 通过追踪过程中自然存在的颗粒粒径与粒数的变化,工程师能够在全生产规模下安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在极端温度与压力条件下。

随着操作条件的变化,通过连续监测颗粒,能够确定过程性能不佳的根本原因。 操作人员可以快速识别过程扰动,工程师可以利用在全生产规模下获得的证据,重新设计具有挑战性的过程并加以改进。

灵活的安装系统允许在各种温度和压力下,使用标准法兰、套管和球阀在反应器或管道中安装探头。 额定为 ATEX 和 I 级 1 区标准的可选吹扫外壳确保仪器可以在易爆场所进行安全安装。

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技术参数

规格 - ParticleTrack G600/G600 Ex
测量范围0.5 – 2000μm
温度范围(主机/现场装置)G600: 0至45°C; G600Ex: 0至40°C
主机说明不锈钢 316, 防水防尘4X, IP66级
主机尺寸(高x宽x长)524 mm x 828 mm x 284 mm
认证CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
电源要求100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A
适用于中试工厂或生产
软件iC FBRM (标准); 用于 FBRM 的 iC Process (可选)
扫描系统气动
扫描速度2m/s
弦长选择方法(CSM)Primary(精细)和 Macro(粗糙)
探头直径25mm
探头浸湿长度R: 400mm; T: 400m; P: 1000mm; X: 自定义
探头浸湿合金SS316 (标准); C22 (可选)
窗口(W)蓝宝石
标准窗口封条Kalrez®
探头/窗口选件TM 窗口; 电抛光
额定压力(探头)10barg (标准); 高达 250barg (自定义)
额定温度(探头)-10 至 120°C (标准); -80 至 150°C (自定义)
导管长度15m [49.2ft] (标准); 20m [65.6ft](自定义)
空气要求扫描仪要求: 最小压力: 4barg [60psig]; 流量: 28.3 NL/min [1.0SCFM]
ParticleTrack型号适用于中试工厂/生产的 ParticleTrack G600 加工技术
G600认证CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
G600Ex认证ATEX / IECEx Zone 1/21和Class 1 Div 1认证、CE认证、1级激光设备、NRTL认证
吹扫要求(仅G600 Ex)压力: 4至8barg(60-120 psig); 流量: 225 SLPM(8.0 SCFM)
物料号 (s)14422846, 14422847


功能特点


建立适用型颗粒系统

科研人员利用ParticleTrack确定如何始终如一地提供具有所需粒径和粒数的颗粒。 在研发到放大生产直至投付生产的过程中,通过选择**的工艺参数,科研人员可以较低的总成本将高质量颗粒产品更快速推向市场,并通过基于数据的方法实现改进。 



借助 ParticleTrack将过程与颗粒系统相关联

,科学家可以定期确定过程参数如何影响颗粒系统。 可以确定过程参数对生长、团聚、破损和形状变化等机制的影响,从而可以使用基于证据的方法对过程进行优化和改进。

实时研究颗粒粒径与粒数
科学家将 ParticleTrack 探头直接插入到过程流体中,以长时间连续监测颗粒粒径与粒数,而无需采样。 这种独特的信息成为有效了解涉及晶体、颗粒和液滴的过程的基础。    

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