TCSPC瞬态荧光寿命成像系统（FLIM）XperRam Ultimate

当某种物质被一束激光激发后，该物质的分子吸收能量后从基态跃迁到某一激发态上，再以辐射跃迁的形式发出荧光回到基态。当去掉激发光后，分子的荧光强度降到激发时的荧光最 大强度I0的1/e所需要的时间，称为荧光寿命。

TCSPC（时间相关单光子计数Time-Correlated Single Photon Counting）是一种荧光寿命测试技术。这种技术在测试灵敏度、动态范围、数据准确度和精密度上具有显著优势。

XperRam Ultimate是一款多功能的拉曼-荧光光谱测量系统，其荧光寿命模块是基于德国PicoQuant TCPSC荧光寿命设备的二次开发。皮秒激光器，单光子探测器，TCSPC单光子计数模块均采用PicoQuant原装设备。结合了Olympus显微镜与Nanobase设计的高 效光路，以及振镜扫描系统。可实现荧光寿命相关测量和荧光寿命成像（Fluorescence lifetime imaging microscopy，FLIM）。

系统示意图

系统特点

>>多种测量模式

一台设备即可实现拉曼成像，荧光成像，光电流成像，荧光寿命成像等多种功能

瞬态荧光寿命成像	​稳态荧光成像	拉曼成像

>>快速大面积扫描成像

传统的成像方式多通过样品台移动来实现扫描成像，这种方式成像速度较慢，样品台上也无法放置大体积，大重量的样品。XperRam Ultimate光谱系统通过振镜调节激光聚焦光斑的位置完成扫描成像，扫描过程中样品台台保持不动，比起传统的平台位移方式具有扫描速度快，扫描精度高，扫描范围大的特点。 

系统参数