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入驻年限第4年
BeamMap2 多平面狭缝扫描光束分析仪描述：
DataRay 的 BeamMap2 代表了一种完全不同的实时波束轮廓分析方法。它扩展了 Beam'R2 的测量功能，允许在光束行程的多个位置进行测量。这种实时扫描狭缝系统在旋转圆盘上的多个 Z 平面上使用 XY 狭缝对，同时测量四个不同 Z 位置的四个光束轮廓。BeamMap2 的独特设计在实时测量焦点位置、M²、光束发散度和指向方面有利。
特点
多种检测器选项，范围为 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm，硅探测器
650 至 1800 nm，InGaAs 探测器
1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
符合 ISO 标准的光束直径测量
端口供电的 USB 2.0
自动增益功能
用于符合 ISO 11146 标准的 M² 测量的可选载物台附件
True2D™ 狭缝
分辨率达 0.1 μm
5 Hz 更新速率（可调 2 至 10 Hz）
剖面 CW/准连续波光束
光束直径 5 μm 至 4 mm
XYZ 轮廓，加上 θ-Φ
对焦位置和直径
实时 M²、指向和发散测量
以 ±1 μm 的重复精度识别焦点（取决于光束）
应用实例
非常小的激光束轮廓
光学组件和仪器对准
OEM 集成
镜头焦距测试
实时诊断对焦和对准误差
将多个装配体实时设置为同一焦点
M² 测量，提供 M2DU 载物台
True2D™ 狭缝
蓝宝石衬底上的 0.4 μm 厚金属多层薄膜
与气缝相比，具有多种优势
避免隧道效应
气缝通常比宽深，并且在高辐照度下会弯曲
规格
| 波长 | 硅探测器：190 至 1150 nm InGaAs 探测器：650 至 1800 nm Si + InGaAs 探测器：190 至 1800 nm Si + InGaAs（扩展）探测器：190 至 2300 或 2500 nm |
| 扫描光束直径 | 硅探测器：5 μm 至 4 mm InGaAs 探测器：10 μm 至 3 mm InGaAs（扩展）探测器：10 μm 至 2 mm |
| 平面间距 | 100 微米：-100、0、+100、+400 微米 250 微米：-250、0、+250、+1000 微米 500 微米：-500、0、+500、+2000 微米 750 微米：-750、0、+750、+3000 微米 |
| 光束腰径测量 | 第二力矩 （4s） 直径符合 ISO 11146;拟合高斯 & TopHat 1/e² （13.5%） 宽度 用户可选择峰值百分比 |
| 光束腰部位置测量 | ± X、Y 和 Z 轴中的 20 μm — 联系 DataRay 获取建议 |
| 测量源 | CW，准CW光束 |
| 分辨率精度 | 0.1 μm 或扫描范围 的 0.05%± <2% ± = 0.5 μm |
| M² 尺寸 | 1 至 > 20，± 5% |
| 发散/准直、指向 | 1 mrad best — 联系 DataRay 获取推荐 |
| 蕞大功率和辐照度 | 总功率 1 W & 0.5 mW/μm² |
| 增益范围 | 1'000：1 切换;4'096：1 ADC范围 |
| 显示的图形 | X-Y 位置和轮廓的缩放 x1 到 x16 |
| 更新速率 | ~5 Hz，可尘埃 2 至 10 Hz |
| 通过/失败显示 | 屏幕上可选择的通过/失败颜色。QA和生产的理想选择。 |
| 平均 | 用户可选运行平均值（1 至 8 个样本） |
| 统计学 | 蕞小值、蕞大值、平均值、较长时间的标准差 对数数据 |
| XY轮廓和质心 | 光束漂移显示和记录 |
| 要求 | Windows 10 64 位 |
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