DM2300型X荧光多元素分析仪

仪器简介：

专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量
能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素

DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。
对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局最近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其第一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。
DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到最高的激发效率、**的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm×350 mm×125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。
凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。

技术参数：

(1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。
(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。
(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。
(4) 分析精度： 理想状态下，测量精度为2～3ppm；
一般状态下，测量相对误差为10%。
(5) 检出限： ≤2 ppm。
(6) X射线光管： 高压：≤50kV， 电流：≤1mA，均连续可调。
(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。
(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：≤155 eV。
(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。
(10) 样品室体积： 长×宽×高：480 mm×350 mm×125mm。
(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度≤80%(25℃)，供电电源：220±20V，50Hz。
(12) 整机功耗： ≤150W。
(13) 尺寸与重量： 长×宽×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。

主要特点：

(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。
(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。
(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到最高的激发效率和**的计数率。。
(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到**的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。
(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。
(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。
(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。
(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。
(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。
(10) 样品室体积大，能测量大件物品。
(11) 价格功能比低，适合我国国情。
(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。