热成像仪PCE-PI系列

简介

PCE-PI系列适用于工业物体，根据物体的红外线放射能计算其表面温度。

在使用时方便携带，可用二维检测器（焦平面阵列），对某一区域进行测量，利用标准化的调色板将其显示为热图像，使用用户通过PI连接，可以轻松处理图像数据，对图像进行进一步分析。探测器为非制冷焦平面（ 25 ×25微米）；

参数

光谱范围为：7.5 ... 13微米；

温度范围为：-20 ... +100°C ， 0 ... +250 °C ， 150 ... +900 °C

精度    ±2°C或±2 %