企业性质生产商
入驻年限第9年
技术参数
产品型号 | C15333-10E |
有效像素数 | 1024 (H) × 1 (V) |
像素尺寸 | 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
有效面积 | 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
满阱容量 | Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons |
读出速度 | Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz |
曝光时间 | 21 μs to 1 s (1 μs step) |
外部触发输入 | Sync readout |
外部触发信号路径 | 12 pin SMA or HIROSE connector |
图像处理功能 | Background subtraction, Real time shading correction |
接口 | Gigabit Ethernet |
A/D转换器 | 14 bit |
镜头卡口 | C mount |
电源 | DC 12 V |
量子效率 | above 60 % (1100 nm ~ 1600 nm) * |
功耗 | 6 W max. |
推荐环境工作温度 | 0 ℃ to +40 ℃ |
环境储存温度 | -10 ℃ to +50 ℃ |
环境工作湿度 | 30 % to 80 % (with no condensation) |
环境储存湿度 | 90 % max. (with no condensation) |
成像器件 | InGaAs line sensor |
* Representative value
产品特征
● SWIR高灵敏度,覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
● 大视场高分辨率,1024像素线阵
● 高行频输出,最大线路速率:40 kHz
● 紧凑轻巧的设计:49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.),
● 小巧轻便,重量约250克
● 高质量的图像以及的矫正功能
●GigE Vision接口
产品应用
● 食品和农产品(损坏检查,质量筛选,材料歧视等)
● 半导体(硅晶片图案检查,EL / PL的太阳能电池检查等)
● 工业(水分,泄漏检测,容器检查等)