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RTI - 自动曲线追踪仪

香港电子器材有限公司

企业性质授权代理商

入驻年限第7年

营业执照已审核
同类产品自动曲线追踪仪(1件)

产品介绍：

Robson Technologies Inc


RTI 的自动曲动追踪系统是半导体行业的领先供货商。 MultiTrace 的客户多是芯片制造商，封装测试代工厂及广为人知的私人测试实验室。“曲线追踪 (Curve tracing)” 是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace 的产品提供广泛的一系列解决方案，可以使用 powered curve trace 测试小型芯片的开路/短路和使用 Latch-up 方式来测试非常复杂的多电路的芯片。 什么是 Curve Tracing?"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找 IC 芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace 产品提供了广泛的一系列解决方案，从使用 powered curve tracing 测试小型芯片的开路/短路到使用 Latch Up testing 测试与更为复杂的多电路的芯片。 RTI's MT Century Curve Tracer

 
 RTI 开发的 MT Century Curve Tracer 是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer 测试设备，zui多到 96 个 channel，提供 4 种型号可供客户选择，一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系统。MT Century Curve Tracer 与 RTI 其他大型 curve trace 拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他 RTI 机型一样，MT Century 系统的设计有与 950 系列的及其它专用夹具连接的接口。


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RTI's MultiTrace Test System原来的自动曲线跟踪器已经提供超过 10 年。这款系统可以zui高检测达 1080 引脚。 它有各种尺寸可供选择，以满足zui广泛用户的需求。


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RTI's MultiTrace 自动 DC Parametric 测试系统


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StdTrace 软件追踪报告


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StdTrace 软件报告


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大量的参考数据


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测试排列软件


MultiTrace 的应用： 

  • 无源曲线追踪器 (Unpowered Curve Tracing)：检测开路，短路和漏电流

  • 有源曲线追踪器 (Powered Curve Tracing)：检测漏电流，供电电流问题。 测量大量有用的参数

  • 电源电流测量 (Supply Current Measurements)：两种方法来测量电流供应。A 6-Bus 系统可同时对 3 组电源测量

  • Latch Up 测试: (选配)根据JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度

 
 基础 Curve Tracing 的应用：  

  • Input-Output 转换功能：将输入电压接到引脚上，测量输出引脚电平变化

  • 对晶体管做曲线分析：检测任何型号的晶体管

  • 显微镜：使用显微镜定位原件的损伤部位

  • IDDQ 测试：测量芯片每个状态的电流输入

  • 功能性的引导能力：Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing根据所输入信息改变输入 Pin 的状态，然后进行量测。测量输出区域的功能测试状态。

 

  • Kelvin 4-Wire 阻力测试：使用这种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据，实现精密的电阻测量。

  

RTI's MegaTrace 自动直流参数曲线追踪MegaTrace 由 648 引脚开始一直到 2160 的引脚，因此其有足够的能力来测试几乎任何芯片。机器集成化较高，机台很容易移动，也可以与其他仪器如显微镜，探针台，以及其他远程测试机器一起使用。 


曲线追踪功能

• Unpowered 曲线追踪 (连续测试)
• Powered 曲线追踪
• Supply Current Characterization (Idd 测试)
• 6 条总线系统的 2VDD 及 3 VDD 测试其它测量及测试功能
• Latch-Up 测试
• 功能性预处理
• 任何的 ±15V 一& ±1A 直流测量


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Socket Brochure

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内置的电阻温度检测器（RTD）与 DUT 接触，提供低至 0.1 度精度的温度监控。


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降低成本/停工期并延长插座寿命



微小间距 (<0.3mm) 供高密度封装使用 


CMOS 感应区域完全可见设计 


用于高频（40GHz）和低电感（<0.02Nh）数字检测 


陶瓷材料和耐高温引脚设计专为老化和高温检测 



超过 3 英寸的，多余 2800 引脚的白钢框架和支持盘一起阻止插座和装置在受挤压时变形


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