OLED-IVL及视角测量系统

OLED-IVL及视角测量系统，是集成PR系列成像亮度计、源表、CCD精 准对位以及多轴高精度运动机构的一整套测试方案。该系列设备具有4款标准机型，可满足客户IVL测试时单工位、多工位、变温以及带视角测量等的不同测试需求。为广大用户在OLED器件研发与生产测试环节提供了便捷性与可靠性。

1、系统主要测试参数

• IVL曲线绘制：IV曲线、电流密度、电流-亮度曲线、光效曲线、电流效率、流明效率

• 光学参数：亮度、XYZ三刺激值、CIE1931色坐标x,y、CIE1976色坐标u’ v’、峰值波长、光谱辐射度数据、CCT、EQE等

• 电学参数：电流、电压、功率等

2、标准机型

2.1单工位紧凑型OLED器件IVL及视角测量系统（OLED-IVL-Mini-M/A）

• 经济实用型的科研/研发阶段OLED器件IVL测试系统

• 适用于对空间要求严格的测量场景，可放置于手套箱用于未封装器件使用。

• 可集成转台测量视角，可集成EQE积分球。

• 可按照需求定制测试距离兼容近摄头及MS-75标准镜头。支持治具的灵活定制与切换。

• 手动测量版和全自动测量版本可选。

积分球(选配)

测量原理：

2.2单工位OLED器件IVL及视角测量系统（OLED-IVL-LAB ）

• 主要用于实验室科研或者产品研发阶段的IVL测试。

• 可拓展成多工位机型，也可取消预留工位从而做小型化设计。

• 满足器件高低温IVL的测试。温度治具满足-20℃-120℃变温控制，特殊温度可定制。

• 满足器件不同视角的测试。视角测量范围zui大可支持±90°，视角分辨率可达0.1°。

• 配备完整的视觉相机，可有效确保检测中心与产品中心一致。

• 运动直线模组重复精度为±0.01mm，旋转模组重复定位精度±0.1°，有效提高测试过程中的对位效率，提高准确性。

检测原理

2.3多工位带视角OLED器件IVL测量系统（OLED-IVL-FA ）

• 系统配备多通道源表，可支持多工位测量（可根据具体器件和发光点数量定制）。

• 满足器件高低温IVL的测试。温度治具满足-20℃-120℃变温控制，特殊温度可定制。

• 满足器件不同视角的测试。视角测量范围zui大可支持±90°，视角分辨率可达0.1°。

• 配备完整的视觉相机，可有效确保检测中心与产品中心一致。

• 运动直线模组重复精度为±0.01mm，旋转模组重复定位精度±0.1°，有效提高测试过程中的对位效率，提高准确性。

多工位旋转治具

测试原理

2.4多工位OLED器件IVL综合测量系统（OLED-IVL-FA-PRO ）

系统特点：

• 系统配备多通道源表，可支持多工位测量（可根据具体器件和发光点数量定制）。

• 同时配备多组治具，支持常温、高低温、不同角度的多种需求混合测试。

• 温度治具满足-20℃-120℃变温控制，特殊温度可定制。

• 视角测量范围zui大可支持±90°，视角分辨率可达0.1°。

• 配备完整的视觉相机，可有效确保检测中心与产品中心一致。

• 运动直线模组重复精度为±0.01mm，旋转模组重复定位精度±0.1°，有效提高测试过程中的对位效率，提高准确性。

测试原理：

3、标准软件

IVL测试主界面

手动界面

光谱图

CIE

IVL曲线