企业性质授权代理商
入驻年限第1年
一、仪器名称:台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920
二、仪器型号:X-Strata920
三、生产厂家:日立分析仪器
四、产地:德国
山东总代:青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53,20。13-71
五、仪器简单介绍
X-Strata920XRF ,镀层测厚仪,zui高jing确度,*少浪费
若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重,则请选择X-Strata920。
您可选择比例计数器或硅漂移探测器(SDD),确保拥有正确配置。
如果您从事电子或金属表面处理,我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置,可分析单层和多层镀层(包括合金层)。
我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化,确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用,包括:PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。
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六、 仪器选型
半自动固定样品台:
Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制
样品台高度固定,测量zui大样品高度33mm
仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×305mm(不含电脑和显示器)
半自动加深样品台
Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制
样品仓抽屉式设计,4个位置上下可调,每格高度25.4mm
zui大样品高度160mm
样品仓内部尺寸(宽×深×高):279×508×152mm
仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×400mm(不含电脑和显示器)
自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度大于160mm的样品测量,仓内抽屉式设计,多个位置上下可调,每格高度25.4mm
全自动样品台
Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴自动控制
可提供对样品的自动和编程控制,多点测量
鼠标控制样品台移动,jing确地定位样品测量点
测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式
样品台移动行程:178×178mm
样品台尺寸:宽610×深560mm
zui大样品高度33mm
仪器外形尺寸:宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)
多种型号规格的准直器
圆形0.2mm(8mil)
矩形0.05*0.05mm(2*2mil)
矩形0.05*0.25mm(2*10mil)
单准直器组件;
多准直器自动控制组件:*多可同时装配6种规格的准直器;
圆形、矩形多种规格尺寸任选(红色常用)
圆形 mil 4 6 8 12 13 20
mm 0.102 0.152 0.203 0.305 0.33 0.508
矩形 mil 1x2 2x2 0.5x10 1x10 2x10 4x16
mm 0.025x0.05 0.05x0.05 0.013x0.254 0.254x0.254 0.051x0.254 0.102x0.406
七、仪器特点
测量元素范围:钛Ti22---铀U92;
测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;
测量精度高、稳定性好,测量结果jing确至μin;
快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;
可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;
进行贵金属检测,如Au karat评价;
材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;
强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;
结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、ke户信息等;
测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;
激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;
拥有NIST认证的标准片;
提供服务及技术支持。
X-Strata920三步即可获得测量结果
1 将产品放置在样品台上
无损分析,无需样品制备
开槽式样品仓便于放置产品
chao大样品台便于大面积产品(如:PCB)测量
配备了门开闭传感器,增强了安全性
2 一键完成视频聚焦
一键自动镭射聚焦,避免人为操作误差
标配固定焦距12.7mm,选配变焦
高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置,画面清晰、测试*准定位;放大倍数:30倍(标配),50倍(选配)
自动台:利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作
简单快速的多点分析
3 一键完成测量
几秒内显示结果
保存、打印或传输结果
测试结果可一键导出PDF(标配)、Excel(选配)
使用预置和客户自定义的报告模板
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