企业性质授权代理商
入驻年限第3年
ZYGO NewView 6200是一种革命性的晶圆测试和计量设备,旨在确保晶圆质量达到最高水平。
利用其卓越的光学性能,6200能够精确测量扫描、地形、静态晶片参数如曲率半径、步高、表面粗糙度、平均厚度等。
该系统配有强大的光学元件,如集成激光干涉仪,可进行高精度测量。前沿的信号处理和软件算法使6200能够始终如一地捕获高保真图像。
NewView 6200的构建考虑了工作效率和鲁棒性。6200的Opto-Go控制器采用现场验证的固件,旨在为设备提供准确且可重复的操作。扫描仪机箱有一个可调节的托盘,可确保精确放置和对准晶片,从而提高测量在多个晶片上的准确性和可重复性。用户友好的图形用户界面,加上易于跟踪的菜单和屏幕上的教程,使程序设置和晶圆扫描变得简单明了。
为了进一步提高生产力,6200可以针对各种晶圆尺寸进行定制。量子频率加倍的Nd:Yag激光器有多个波长,允许用户选择最佳波长来匹配他们的特定测量。此外,ZYGO Adaptive Optics技术可防止环境干扰造成纳米级畸变,确保测量结果在任何实验室都保持准确。6200的计量功能因能够从各种曲面(包括玻璃和基板)捕获非接触式3 D数据以及用于3D分析的透焦数据而得到进一步增强。
ZYGO NewView 6200通过将多种集成到单个平台中,提供了高质量的3D计量数据以及将计算机定制到不同应用程序的灵活性。总之,NewView 6200是一种极具创新性的晶圆测试和计量工具,能够提供最高质量和准确性。其强大的组件、直观的用户界面和用户可定制的功能使6200成为任何晶圆测试实验室的理想选择。