XRF-1800型 扫描型X射线荧光光谱仪

技术特点

•性能优异的光源，业界ZD的外部条件要求，电压允许波动±10%，接地电阻≤30Ω
•世界SC波长色散荧光250µm微区分布分析，实现了异性样品和微量样品的分析
•独有的高级次谱线解析功能，可以进行准确的定性-定量分析
•新型SFP2011“无标样”软件，快速实现未知样品的定性-半定量分析
•配备新型薄膜膜厚和成分分析的背景基本参数法（BJ-FP）
•2015新型“定量-FP”法，实现了铁基、镍基、钴基、钛基、铜基等金属的全元素准确分析