NanoSystem NV-2700 非接触式3D光学表面轮廓仪

NanoSystem NV-2700 非接触式3D光学表面轮廓仪为多样研究所有的表面提供***化解决方案。所有的功能实现全自动快速运转。

NV-2700可以最快测量所有表面的测量仪，利用持有的***白光干涉仪WSI和相应算法开发的产品。X，Y，Z轴全部设计为全自动，通过可调节F.O.V镜头，自动构成多样的倍率。此产品专为研究所，大学和工艺管理而制作的产品。此设备可以通过拼接（Stitching）功能可以进行大面积（500?）测量。

得到***的WSI/PSI技术，只需要表面有1%的反射率即可测量，表面现象中的高度，宽度，幅度，粗糙度(Ra, Rq, Rz, Rt, etc)等各种项目均可测量。

此外，WSI的高度分辨率为0.1nm，2秒钟时间即可扫描所有的表面，在不破坏样品的情况下,可测定0.1nm到1000um的样品，均可观察2D/3D的现象。不仅如此，更是保障了0.1%(1σ)世界水准的重复性，本公司保有的技术可应用于 PCB, display, engineering part, chemical material, optical parts, bio, R&D等方面。

技术比较

一般光学显微镜：***使用但是具有分辨率和重复性不高的缺点。

电子显微镜（SEM）：测量准备过程和测量时间超过20分钟 (star-up, vacuuming, and observation)，此外，检测台过小，不得不对测量物体进行破坏测量的情况较多。

传统接触式粗糙度测量仪：由于是接触式测量仪，会在样品表面留下划痕，精度在2微米左右。

原子显微镜（AFM）：消耗大量时间，准备过程非常复杂，测量技术最多需要12小时。

NanoSystem的WSI：无需任何准备，即可在2秒内完成精度在（0.1nm),并可测量0.1nm到1000um的样品，大量公司在产品的QC，QA或是R&D部门大量使用此产品。