NanoSystem NV-1800非接触式3D光学轮廓仪

Patented算法和白光干涉技术创造S/W。获得WSI/PSI技术测量各种表面材料和参数，包括表面纹理、形状、台阶高度和更高0.2 um-横向分辨率 

白光扫描干涉技术(0.1nm)、高速测量表面积、高度和体积的技术。在不破坏任何破坏的情况下，纳米系统的(白光扫描干涉法0.1nm到m范围内测量样品，并提供真实的样品三维形状。此外，重复性小于)，无论放大，0.1nm。基于纳米系统技术的精度)，该产品可***应用于半导体、印刷电路板、显示、工程部件、化工材料、光学部件、生物、

(0.1nm)、(10 Mm)和高清晰度图像，在10000 μ2秒内测量样品，提供真实的(只需将样品直接放在样品台上)反射率为 2D和 3D 测量

产品规格：

• 干涉物镜：单透镜可选

• 扫描范围：270um可选）

• 垂直分辨率：0.5nm ，0.1nm

• 倾斜台：±Z轴

• 行程：50X50mm（手动）

应用领域：

Nano View系列为LCD（液晶显示器）、IC Package（芯片封装）、Substrate（基板）、Build-up PCB（积层板）、MEMS（微机电系统），Engineering Surfaces（工程表面）等等领域提供纳米级别精度的量测。