企业性质生产商
入驻年限第2年
产品介绍:
Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop 扫描电子显微镜 (SEM) 是一款旨在用于增材制造,微量纯度实现的多用途台式 SEM。
实现对数据的内部控制:
监控金属粉末关键特性
适用于粉末层和粉末进料增材制造工艺
识别颗粒大小分布、单个颗粒形态以及异物
Phenom ParticleX AM Desktop SEM 配备了一个电镜室,可分析最 大 100 mm x 100 mm 的大样品。专有的排气/装载机制使其具有世界上最快速的排气/负载循环,能提供高 通量。
主要特点
一般 SEM 使用
Phenom ParticleX AM Desktop SEM 具有一个带有准确快速电动样品台的电镜室,可分析最 高 100 mm x 100 mm 样品。尽管样品尺寸更大 ,但专 利的循环加载机制可使通气/加载循环保持到行业领先的 60 秒或更短的样品加载时间。实际上,这可改善 SEM 系统的通量因子。
增材制造
Phenom ParticleX AM Desktop SEM 可测量各种大小和形状参数,例如最 小和最 大直径、周长、长宽比、粗糙度和铁氧直径。所有这些结果均可以 10%、50%、90% 值(例如、 d10、d50、d90)显示。
元素绘图和谱线扫描
用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。这对于涂层、涂料以及其他多层应用特别有用,可用于分析边线、涂层、横截面等
二级电子检测器
ParticleX AM Desktop SEM 可选提供二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此,非常适合揭示详细的样品表面信息。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时,这通常是如此。
性能数据
电子光学 |
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电子光学放大率范围 |
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光学放大率 |
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分辨率 |
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图像分辨率选项 |
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加速电压 |
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真空水平 |
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检测器 |
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样本尺寸 |
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样品加载时间 |
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