二手 日本电子 JSM-7401F 场发射扫描电子显微镜 SEM

带能量滤波器的超高分辨率FE-SEM，可直接观察绝缘体
JSM-7401F是一款高亮度圆锥型FE电子枪和低像差圆锥型电子枪是结合物镜（半内镜）的超高分辨率扫描电子显微镜。
提高整体稳定性（抗震性、电子稳定性），可以稳定获得1 nm的保证分辨率，从而可以在最大放大倍数100万倍下进行观察。它还具有信号选择功能，还可以获得样品表面纳米结构的特征。

特征

JSM-7401F是一款超高分辨率扫描电子显微镜，结合了高亮度锥形FE电子枪和低像差锥形物镜（半内镜）。
提高整体稳定性（抗震性、电子稳定性），可稳定保证1 nm的分辨率，从而可以在最大放大倍数100万倍下进行观察。它还具有信号选择功能，还可以获得样品表面纳米结构的特征。

特征

• 高稳定性

最大放大倍数可达100万倍

• 高分辨率和极低的加速电压

最小加速电压100V，二次电子分辨率1.5nm（1kV/GB模式）

• 能量过滤器

新型 R 过滤器，让您一键获得最佳条件

• 使用柔和的光束进行观察而不损坏样品表面

兼容各种观测分析

• 能量色散 X 射线光谱仪 (EDS)*

可伸缩背散射电子探测器*

• 镜头内背散射电子探测器*

透射电子探测器 (TED)*

• 全自动照射系统

改变加速电压后无需机械对轴
无需选择物镜光圈或对轴
配备自动孔径角优化镜头

• 舒适的操作性

1280×1024像素高清数字实时图像
高度可扩展的大型样品室
电机驱动优心载物台
舞台导航系统

• 洁净的样品观察环境

通过样品交换室进行样品交换
安装前级捕集器
液氮捕集器（防止样品污染装置）*
一次性样本交换机制

• 选项

柔和的光束在极低的加速电压下进行高分辨率观察

温和束（GB）模式是一种将入射电子在样品前面减速以尽量减少对样品的损坏，并尽量减少向样品中的扩散以观察样品的极端表面的模式。

入射电子在样品之前减速。加速的二次电子与New R滤波器的内壁碰撞并产生二次电子。

新型 r 过滤器

新型r-滤波器是一种独特的能量滤波器，结合了二次电子控制电极、反射电子控制电极和滤波器电极。当用电子束照射样品表面时，从样品表面发射出具有各种能量的电子。通过组合多个静电场，JSM-7401F 选择性地检测来自样品的二次电子和反射电子，同时将入射电子保持在透镜系统的中心。

一键优化条件

新的 r 过滤器使用易于理解的菜单窗口进行操作。
菜单窗口上提供了SE、BE、Sb、Bs等按钮，可以自由地从样品的表面信息切换到成分信息。 Sb和Bs按钮可以连续调整要混合的二次电子和背散射电子的能带，让您根据观察目的获得最佳对比度。

通过设置New-filter选择性检测二次电子和背散射电子。

通过设置New-filter来检测信号