差分阻抗测试仪，差分延迟阻抗测试仪，高频差分阻抗测试仪

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用途：

特性差分阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。

特性阻抗测试仪技术参数

项目 规格

型号 TDR-ZK2130

控制阻抗测试范围 20～150Ω

测量精度 50Ω±1%

测量长度 0.05～2m

水平显示分辨率 0.2mm

垂直显示分辨率 0.05Ω

测试方法 时域反射法

带宽 3GHZ

特点：

1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。

2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。

3、提供单端和差分阻抗测试。

4、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。

5、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。

6、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。

7、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。

8、打印测试报表、波形及测试结果。

9、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。

常见问题解决方法

1校准过程中出现数值误差偏高。

产生原因：误操作导致。

解决方法：关机1个小时，重新开启进行校准。

2单项删除出现软件报错。

产生原因：操作过快导致。

解决方法：需要重新开启软件。

3连续48小时开机，日志没有及时更新。

产生原因：机器在长时间（超过12个小时不操作）会有自保护功能。

解决方法：重新开启软件。

4水平分辨率显示部分网格消失。

产生原因：水平分辨率调节过小导致。

解决方法：水平分辨率调节到用户需要的即可。