CAF离子迁移测试仪HVUa-1000

CAF试验产品优势  

简单/便利

△采用驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。

△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。

△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。

高性能&高机能

△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。

→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。

△一台电脑最大可以增设400通道。

• 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)

• CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

• CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能

• 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し

• 短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

• トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)

• 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

• 5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。