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ORTEC 优化平面型GEM-S探测器

阿美特克商贸（上海）有限公司

企业性质生产商

入驻年限第9年

营业执照已审核
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ORTEC 优化平面型GEM-S探测器 核心参数
仪器分类: 能谱仪

产品介绍

性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势；能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升

采用超薄可靠接触极；在常温下保存不会损害探测器性能

严格保证效率、分辨率、峰形与峰康比等完整指标

以晶体尺寸定义其型号，同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸，从而保证了相当一致的效率曲线


优化平面型： GEM-S    

型号

晶体尺寸(mm)

能量分辨率-FWHM(≤keV)

峰形(≤)

峰康比（≥）

效率（≥）

端窗直径

(mm)

直径

厚度

@5.9keV

@122keV

@1.33MeV

FW.1M/FWHM

FW.02M/FWHM

GEM-S5020

50

20

0.35

0.65

1.8

1.9

2.6

28

10%

70

GEM-S5825

58

25

0.40

0.68

1.8

1.9

2.7

35

15%

70

GEM-S7025

70

25

0.45

0.70

1.9

2.0

2.8

40

20%

83

GEM-S7030

70

30

0.50

0.72

1.9

2.0

2.8

46

34%

83

GEM-S8530

85

30

0.50

0.72

1.9

2.0

2.9

55

50%

95

GEM-S9030

90

30

0.50

0.75

2.1

2.0

3.0

62

60%

108

GEM-S9430

94

30

0.56

0.78

2.1

2.0

3.0

65

65%

108


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