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BeamPeek™系统

北京多晶电子科技有限公司

企业性质授权代理商

入驻年限第4年

营业执照已审核
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BeamPeek™系统的功能特性:  

BeamPeek™ 集成了激光光束分析仪相机、功率计、光束收集器、分束器和光学器件,为工业环境中的增材制造激光分析提供了一个全面的解决方案。

  1. 焦点尺寸

  2. 校准焦点位置以构建平面

  3. 激光功率

  4. 激光功率密度

  5. 光斑大小和功率随时间的变化

BeamPeek 允许在 1kW 的情况下使用被动冷却进行长达 2 分钟的连续测量,无需风扇或通过射束收集器可互换盒进行水/空气冷却。其工业设计使其易于集成到生产线中并在不干扰生产过程的情况下执行激光特性分析。

BeamPeek™系统图纸:  
BeamPeek™系统规格:  
Beam Profiling
波长 532nm, 1030-1080nm
zui小-ZD焦点尺寸 34.5µm - 2mm
功率范围 10 - 1000 瓦
焦距 150mm-800mm
焦点位置已校准 ±100µm
光束分析 ISO 11146 测量
功率计 NIST 溯源校准 ±3%
遵守 CE、UKCA、中国 RoHS
BeamPeek™系统 FAQ  
BP 是否需要定期校准?

是的,因为 BeamPeek 包括 Ophir 常规功率计。

相机传感器/焦平面位于何处?

与具有焦平面设置的 BeamCheck 不同,当激光焦点位于床表面时,相机传感器处于对焦状态,BeamPeek 相机传感器在底座/机器床上大约 75 毫米(精确值针对每个设备单独校准) . 为了使光束聚焦在相机传感器上,床身必须向下移动校准值。这种设置的原因是改进了功率处理:更高的功率和更长的高功率曝光时间。

获得功率测量结果的zui短等待时间是多少?

对于带热敏头的功率计,功率测量的zui短响应时间为 3 秒。

获得功率测量结果的zui短等待时间是多少?

对于带热敏头的功率计,功率测量的zui短响应时间为 3 秒。

如果使用 NIR 激光波长 1070nm,测量 1064nm 或 1080nm 应该选择哪个 PM 波长?

选择接近激光波长的波长,在本例中 1064 比 1080 更接近。

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