理学 MiniFlex XRD X射线衍射仪

理学的MiniFlex更新了X射线衍射仪的定义 

X射线衍射法是用于材料分析的有效且成熟的技术，水泥、催化剂、石 油、能源和制药等行业的从基础研究到质量管理各环节均利用该技术分析材料表征。同时，它也是地质学、材料科学、化学和晶体学专业需要教授的一项重要分析手段。 

理学的MiniFlex是功能齐全的通用型X射线衍射仪，可进行多晶材料的定性和定量分析。在定性分析中，可通过与已知相数据库进行对比来识别未知结构（化学组成或晶相）。在定量分析中，可分析固体混合物表征，以确定晶体化合物的相对含量。

第六代MiniFlex保留了以往颇受用户好评的一些特点： 

·可安装在工作台上的小巧机身 

·600W大功率的X射线管 

·易于使用、操作和维护 

·论文产出率高 

并提供以下高端功能和选配： 

·HyPx-400MF-多维硅阵列探测器 

·以二维或一维模式采集数据 

·搭载最新开发的软件SmartLab 

Studioll 

·8位自动进样器 

·气密样品台 

·旋转样品台

D/teX Ultra 

一维硅阵列探测器 

标准配置高性能探测器D/teX Ultra,使X射线强度较以往的闪烁计数器大约提高了数十倍~百倍以上，因而可以进行高速及高强度的测量。 

D/teX Ultra可选配石墨单色器，从而优化信噪比（如上图）还可抑减来自含Fe、Ni、Co和Mn样品的荧光X射线。

HyPix-400 MF 

多维测量硅阵列探测器 

MiniFlex还可选配HyPix-400MF多维测量硅阵列探测器，可进行一维和二维测量，具有高速、宽动态范围和低噪声等特点，因而应用范围较广。除了传统的粉末衍射以外，还可进行以往被视为难点的微量样品测量以及大晶粒或择优取向样品的分析。

X射线粉末衍射：定量分析包（选配） 

支持内标法、外标法和标准添加法。 

X射线粉末衍射：综合分析包（选配）》 

读入测量数据后，通过自动拟合可以算出晶粒尺寸、晶格畸变和结晶度，可以进行晶格常数的精修，并通过上述结果可以确认：结构与物理特性之间的关系随样品的不同而发生变化。 

X射线粉未衍射：Direct Deviation Method(DD法) 

DD法是理学的虎谷秀穗教授于2016年发明的。只要知道样品各相的积 分强度和组成式，便可计算定量值。较之以往的RR法（即使用一个衍 射峰的积分强度和RR值计算定量值的方法)不易受取向和峰重叠的影响。 

X射线粉末衍射：Riedveld分析包 

在进行全图拟合(WPPF)之后识别晶相，无需校正曲线和标准样品， 

由测量数据道接计算定量值。

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