企业性质一般经销商
入驻年限第10年
180° 反向散射 DLS 设置
稳定的固定光学样品接口——无需调整
快速磁场反转可防止电渗
作为功率谱比函数的稳健迁移率计算
高浓度zeta电位测量
样品浓度和分子量测定
通用溶剂兼容性
频率功率谱计算模型代替PCS
激光放大检测-高信噪比
纳米颗粒和ZETA电位分析的理想选择
NANOTRAC WAVE II粒度分析仪中的zeta电位测量采用了与测量纳米粒度分布相同的频率功率谱方法。同样稳定的光学样品接口意味着无需调整。在测量粒径时,收集反向散射和激光放大的检测信号,应用电场的快速排序可防止电渗。光学探针表面被涂覆以提供与样品的电接触。使用两个探针,一个用于确定滑动面上粒子电荷的极性,另一个用于测量粒子在电场中的迁移率。极性是在脉冲电场中测量的,而迁移率是在高频正弦波电场激励下测量的。zeta电池的两侧有两个探测探针,用于探测极性和迁移率。 根据线性频率功率谱分布(PSD),可以计算与颗粒浓度成正比的负载指数(LI)。负载指数值为总散射提供了一个单一数字,可用于确定微粒的迁移率(微米/秒/伏/厘米)和微粒极性(正负)。 测量迁移率和zeta电位首先测量PSD,并在激发关闭的情况下确定LI。然后在高频正弦波打开的情况下测量PSD,并取一个比率。通过测量脉冲直流激励前后的LI来确定极性。对于带正电的探针表面,激发后的LI除以激发前的LI的比值小于1表示正极性(浓度降低),大于1表示负极性(浓度升高)。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta电位∝ 流动性