二手 蔡司 AURIGA COMPACT 聚焦离子束场发射扫描双束电子显微镜FIB-SEM

Zeiss Auriga聚焦离子束场发射扫描双束电镜（FIB）是国际上纳米结构分析和材料微纳结构制备的先进设备。它配有电子束和Ga离子束，可以实现电子束与离子束的同时在线观测，具有束流稳定、分辨率高、纳米操控精确的特点，可以在纳米尺度的分辨率下对材料进行三维、高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

主要技术指标The main technical indicators：

• SEM分辨率Resolution：

        1.0nm @ 15kV

        1.9nm @ 1kV

        放大倍数Mag.：12 ~ 1000,000x

        加速电压EHT：0.1 ~ 30kV

• FIB分辨率Resolution：

        2.5nm @ 30kV

• 放大倍数Mag.：300×～ 500,000×

• 加速电压EHT：1.0 ~ 30Kv

        配置Configuration

• 探测器Detector：Inlens二次电子探测器

        E-T 二次电子探测器

        ESB背散射电子探测器

• X射线能谱仪X-ray spectrometer

• 分辨率Resolution：127 eV @ MnKα

• 探测元素范围Detection range of elements：

• Be(4) ~ Fm(100)

• EBSD探测器 EBSD Detector

• 空间分辨率Spatial resolution：50nm

主要功能：

1.  场发射扫描电镜（SEM）：各种材料形貌观察和分析，如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等

2. X射线能谱分析仪（EDS）：材料微区成分分析；MnKa峰的半高宽优于127eV；CKa峰的版高宽优于56Ev;FKa峰的半高宽优于64eV；元素Be4-U92;

3.3D背散射电子取向成像系统（EBSD）：多晶材料的晶体取向和织构分析和3D重构；空间分辨率：优于50nm；探测器灵敏度： 加速电压在3KV时，束流小于50pA能采集到花样；解析速度最大可达600点/s；测试能谱和EBSD 同步采集和一体化功能，选取实际样品进行三维EDS & EBSD测试；

4. 聚焦离子束系统（FIB）：材料微纳结构的样品制备，包括：SEM在线观察下制备TEM样品、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。