二手 FEI Strata 400S 聚焦离子束场发射扫描双束电子显微镜 FIB-SEM

    技术参数：

• 加速电压5kV-30kV，放大率：300×～500,000×；分辨率2nm；配备二次电子探头（SED），背散射电子探头（BSD），扫描透射电子探头（STEM），纳米机械手（OmniProbe），气相沉积系统（GIS）。 （离子光学系统）分辨率:10nm ; （电子光学系统）分辨率:1nm; （离子光学系统）发射源:镓液态金属离子源; 气体源:C 、Pt; 机械手：有机械手 最大样品尺寸：2cm*2cm*5mm 设备附件：STEM 电子束产生模式：场发射 相关软件：Autoslice 

• 功能特色：

• 有 Pt 和 C 两种源

• 样品要求：

• 最大样品尺寸：2cm*2cm*5mm