二手 FEI Tecnai F20 透射电子显微镜 TEM

1.性能参数：

(1)电子枪：肖特基场发射电子枪；

(2)加速电压：20kV-200kV。

2.连续可调

(1)TEM：点分辨率：0.27nm；

(2)线分辨率：0.144nm；

(3)信息分辨率：0.18nm；

(4)STEM：分辨率：0.34 nm；

(5)探头：高角环形暗场探头。

二、主要功能及特色：

1、可实现常规电镜分析术: TEM, HRTEM, STEM,电子衍射

2、配备Fischione的三维重构样品杆，可实现±70°的倾转，可用于电子断层三维重构数据的采集，该技术主要用于研究细胞、细胞器以及一些巨大超分子复合体

3、配备gatan冷冻传输样品杆，可用于冷冻样品单颗粒三维重构数据采集，该技术可以对分离纯化的颗粒壮大分子如病毒、蛋白分子或复合体等进行结构解析，形成超高分辨率图像

4、配备自动化数据收集软件，可在低剂量模式，对冷冻含水样品自动的进行高通量数据收集，最大限度的减少样品的辐照损伤。单颗粒三维重构技术的EPU采集软件，电子断层扫描三维重构技术使用的Xplore3D