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全光谱椭圆偏振测厚仪SE950

致东光电科技(上海)有限公司

企业性质生产商

入驻年限第9年

营业执照已审核
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全光谱椭圆偏振测厚仪SE950 核心参数
波长范围: 220~950nm
测量准确度: Tan(psi)≤0.01,cos(delta)≤0.01标准片 at 633nm)
重复性: 膜厚重复性<(1 sigma,5 times) 0.2nm基于110nm标准片


全光谱椭圆偏振测厚仪  

全光谱椭圆偏振测厚仪仪,为R&D和QC提供各种功能材料的光学常数测量及光谱特性数据分析,速度快,精度高