德国布鲁克电子显微镜分析仪器 SEM QUANTAX EDS

企业性质

入驻年限第2年

营业执照

详细介绍

产品介绍：

1,000,000

cps

有效输出计数可达 1,000,000 cps

无与伦比的分析速度

> 2,200 条元素谱线

包含所有 K，L，M 和 N 线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析

> 1.1 sr

更大的采集立体角

优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率

用于 SEM, FIB-SEM 和 EPMA 的能量分散谱仪

布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。
XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。
XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案，此外，独特的 XFlash® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。
Slim-line 技术，大立体角设计，最新一代脉冲处理器，以及维护预警系统使系统运行时间达到最大化。
更好的能量分辨率和采谱性能。
精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。

高效的元素分析

每一套EDS系统都独立进行优化，保证以更快的速度得到更精确的结果。
更大的输出计数率使测量时间大大缩短，可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。
优化的结构设计，可以分析各种高难度的样品。
优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。
更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。
一体化的 ESPRIT 软件平台将EDS, WDS, EBSD 和微区-XRF 无缝组合，成为一个综合的分析平台，可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。

SEM 元素分析在不同领域的应用

高温耐火材料硼化物的低电压 EDS 定量

超高温（UHT）硼化物陶瓷是一类用于极端环境的耐火材料。

解析热电材料中富集铋的晶界

热电材料具有从能源生成到固态冷却等多种应用。

用于硬质合金切割工具的 TiCN 硬涂层

功能薄层和厚层在工程技术上十分重要，因为它们可增强或改变任何材料的表面特性。然而，这些薄膜的二维性质和材料中的包埋位置对这类材料的可靠分析提出了挑战。

Si/C 核/壳结构纳米颗粒的超高分辨元素面分析

使用布鲁克独特的EDS FlatQUAD探测器，使 Si/C 核/壳结构硅纳米颗粒的超高分辨元素面分析表征成为可能

陨石标品的高分辨X射线元素面分析

使用布鲁克独特的 XFlash FlatQUAD EDS 探测器在扫描电子显微镜上进行元素分布面分析不需要样品制备。在这里，我们介绍在陨石样品上获得的 EDS 结果，这种珍贵的样品往往不能做任何样品制备。

粗糙表面样品的 EDS 定量分析

为了进行可靠的 EDS 定量分析，必须准确了解样品和探测器几何构型。

基于 SEM 的 EDS：对整个地质薄片样品进行高效 X 射线面分析

通过控制扫描电子显微镜的电子束和样品台，EDS 只需几分钟即可实现整个矿物样品薄面的元素分布表征。

德国布鲁克 电子显微镜分析仪器 SEM QUANTAX EDS