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企业性质生产商
入驻年限第3年
产品概述
闪存芯片智能测试系统FT-N200是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最多可达25种，并行测试闪存颗粒数量最多可达200 颗。
闪存芯片智能测试系统FT-N200 支持多种测试 pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。
设备组成
名称 | 规格 | 数量 | |
主 体 | 测试板 | PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1_3_Rohs； | 25 |
温箱 | FT-N200 定制温箱 L187cm*W89cm*H183cm； 可并行测试颗粒数量：1~200 颗； 温箱温度范围：-60℃~+150℃； 含维护用螺丝刀、备用螺丝、扳手； |
1 | |
上位机 | CPU-i7，16G 内存，1T 固态硬盘+机械硬盘 3T； 21.5 寸显示器； | 1 | |
交换机 | 千兆交换机 | 2 | |
配 件 | 真空吸笔 | 便携式防静电 | 1 |
闪存规格限位框 | 12mm*18mm（测试底座内置） | 200 | |
闪存规格限位框 | 14mm*18mm | 200 | |
安装 U 盘 | 32GB | 1 | |
软 件 | NAND 闪存自动化测试分类与寿命预测仪 1.0 | 1 | |
闪存筛选方法软件 V1.0.0 | 1 | ||
NAND 闪存高低温测试分类与筛选仪 V1.0 | 1 | ||
产品功能
产品功能 | |
基础测试 | 芯片信息识别 |
实时功耗测试 | |
误码率测试 | |
平均擦除时间测试 | |
平均编程时间测试 | |
坏块数测试 | |
坏块容量测试 | |
剩余可用容量测试 | |
闪存等级划分 | |
剩余寿命预测 | |
一键导出测试报告 | |
实验测试 | 最大错误数测试 |
平均擦除时间测试 | |
平均编程时间测试 | |
闪存错误数变化绘图 | |
实际可擦写次数测试 | |
最大页面错误数变化测试 | |
擦除时间变化测试 | |
编程时间变化测试 | |
高阶测试 | 测试电压拉偏 |
设置测试范围（块间隔） | |
ECC 设定 | |
挑选测试 pattern | |
Read-retry | |
数据保持 | |
读干扰 | |
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