企业性质生产商
入驻年限第9年
最高温度: | 150℃ |
最低温度: | -45℃ |
均匀度: | +/-2℃ |
稳定性: | +/-2℃ |
三箱式冷热冲击箱主要用于固定静止式摆放产品,或带载测试,测试物件置放于工作区,通过改变风道方式,将预冷室或预热室的温度带入工作室实现温度的快速冲击变化,由于比二箱冷热冲击箱多增加了一个工作室区域的容积,在升降温时,需对预冷热量的要求要高,功率和蓄能装置配置要大。
冷热冲击试验箱满足的试验方法:
GB/T 2423.1-2008 试验A:低温试验方法、
GB/T 2423.2-2008 试验B:高温试验方法、
GB/T2423.22-2002 试验N:温度变化试验方法 试验Na
GJB 150.5 A-2009 军之用设备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360A-1996 温度冲击试验、
IEC 68-2-14 試驗方法 N :温度变化
GJB367.2-2001 军之用通信设备通用规范 温度冲击试验
箱体结构:
全部功能采用计算机控制,系自主开发的软件,有良好的操作界面,使用户的操作和监测都更加简单和直观,保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下,可以临时更改此程序段的数值,可以在屏幕上设置时间的参数,使制冷、加热、提蓝传送切换,按设定值自动进行。
冷箱、热箱独立控制,箱门互相独立,扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。
产品保温效果可以得到充分保证。
试验箱门与循环风机,提篮传动等互锁,保护操作者的安全,一旦打开箱门,循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管,方便用户向箱内引入传感器线,检测电缆等类型引线。
原理:
冷热冲击试验机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
操作流程:
一般来说,高低温冲击试验箱操作分为五部走:⑴预处理;⑵初始检测;⑶试验;⑷恢复;⑸检测。
下面皓天和大家一起分享一下详细流程内容:
1、预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。
2、初始检测:将被测样品与标准要求对照,符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。
3、试验:
3.1 试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到指定点,保持一定的时间至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
3.2 高温阶段结束后,在5imin内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
3.3 低温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
3.4 重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小,时间可能会略有误差。
4、恢复:试验样品从试验箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定。
5、检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。