KSI－ Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统

KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统

​- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率

- 探测深度<100nm
- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。
- 光声效应增强了对比性
- ZD放大倍数：1000倍
- 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节