FT-371C高阻四探针测试仪

FT-371系列高阻双电四探针测试仪

一.概述：

四探针法测试高阻值材料方阻及电阻率，可以测试到10^10Ω方阻值，液晶显示，芯片控制，恒流输出， 四探针双位测量、参考美国 A.S.T.M 标准。中或英文语言版本.

FT-371系列高阻双电四探针测试仪

二.适用范围：

覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试,硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料,晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等.

FT-371系列高阻双电四探针测试仪
三.参数资料Parameters：