赛默飞 X射线衍射仪 ARL EQUINOX 100

赛默飞Thermo ScientificTM ARLTM EQUINOX 100是 一款配有独特EQUINOX弧形探测器的便携台式 衍射仪，可在宽角度范围内同时测量所有的衍射 峰。因此EQUINOX 100比其它衍射仪具有更快 的测试速度。不论您对分辨率如何要求,仅需几分钟即可完成对大多数样品的完整分析。

赛默飞ARL EQUINOX 100仪器的小体积优势得益于水冷系统完全集成在设备内部。它的性能完全满足实验室对于简单又功能强大的衍射仪需求。仪器配有多种样品架，如：6位自动进样器、粉末透射样品架及薄膜样品附件。

• 实时采集

• 操作方便

• 无需校准

• 非常可靠

• 超高分辨率

• 无需维护

·高强度微聚焦光源

微聚焦X射线源采用低功率X射线管，却能产生高强度的X射线。这是由于该设计利用了透镜系统对入射的X射线进行聚焦。因此，即使在低功率下，与样品发生衍射的X射线光通量仍然比传统XRD系统高很多。
X射线光通量接近标准X射线管
使用聚焦镜以产生更高的光强度
聚焦镜将光束聚焦于样品，具有更高的能量效率
光斑尺寸约5 mm x 300 µm
聚焦几何设计

·实时同步数据采集

赛默飞提供的超大面积实时探测器具备独特的采谱方式，可同步采集所有的衍射数据。用户可以实时地进行粉末、块体以及薄膜材料相关的衍射实验，不仅提高了测试速度，而且非常适合进行动态研究。

·动态研究

在研究材料的物理或化学特性与温度、环境、压力或者其他因素的变化关系时，需要对其晶体结构进行实时的动态测试。
当材料发生相变时，就可以使用赛默飞的超大面积实时探测器技术进行观测。
该探测器可以同步采集异常复杂的XRD谱图，保证了不会遗漏实验过程中发生的任何物相变化，特别是当材料中存在不稳定化合物时。

·薄膜应用

X射线掠入射衍射可以对薄膜样品进行物相、织构分析或者对沉积在特定基体上的薄层晶体进行结构测定。而X射线反射测量则可以对薄膜的物理性质例如层厚、表面粗糙度进行表征。