赛默飞能量色散X荧光光谱仪

赛默飞能量色散X荧光光谱仪ARL QUANT'X的功能变得更加强大！除了 Peltier 冷却 Si(Li) 检测器，现在该仪器还安装了厚 1mm、面积 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能够以出色的分辨率处理高计数率，而且通常比 Si(Li) 检测器薄得多。常见厚度为 0.45mm，更高能量下的检测效率较差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，达到 1mm。与基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表现出更好的灵敏度，检测极限增加到原来的 2 倍，还适用于 Cd 和 Sn 等重金属元素。另外，计数时间还可以减少为原来的 1/4！新型 SDD1000 结合了 SDD 和 Si(Li) 检测器的优点。 

先进的技术

 Peltier Si(Li) 冷却检测器 或者 1mm 厚的硅漂移检测器 (SDD)。

数字脉冲处理 (DPP) 技术。

高性能、多元素分析。

选配的 Thermo Scientific™ UniQuant™ 软件可提供优秀的无标样分析。