日本KETT LH-373膜厚计

测定方法

高频涡流式

测定对象

非磁性金属基体上的绝缘层

测定范围

0-1200µm

测定精度

<50µm±1µm  ，50µm-1000µm±2%  ，1000µm-2000µm±3%

分辨率

<100µm为0.1µm ， >100µm为1µm

记忆数据

大约3000个

附加功能

1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据统计 5.设定上下限 6.数据统计（测定次数 *大值 *小值 标准偏差） 7.语言选择（中、英、日、韩） 8.日期时间 9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出

测头

点触式（LHP-J）

显示方式

数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）

数据输出

电脑输出（USB或者RS-232C)或者连接打印机

电源

4节1.5V碱性电池

存储通道

有50个通道可供选择

尺寸重量

75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg

标准配置

基体/标准片/4节碱性电池/测头/皮套

可选配置

数据管理软件（LDL-03)，不同厚度的标准片，打印机VZ-330