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抗干扰介质损耗测试仪的基本技术参数

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抗干扰介损测试仪基本技术参数


抗干扰介损测试仪是测量介损(tgδ)和电容容量(Cx)的先进仪器。用于测量高频高压条件下的各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、变压器等。变压器、变压器等高压设备的介电损耗(tgδ)和电容容量(Cx)消除了QS高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需转换、内置高压、抗干扰能力强、测试时间(国内同类产品中最快)、体积小、重量轻等特点。 < /p>

抗干扰介质损耗测试仪技术参数


1、高压输出:0.5~10kV,每档增加500V,共20档

高压输出线,可接地使用

5Hz、50Hz、55Hz三种频率


2.容量:1500VA


3.准确度:tgδ:±(读数*1.0%+0.08%)

Cx:±(读数*1.5%+5PF)


4. 分辨率:tgδ:0.01% Cx:1pF


5、测量范围:0.1%

PF< Cx <60000PF

10KV 时,Cx ≤30000PF

5KV 时,Cx ≤60000PF


6. 电源:AC 220V±10% 50±1Hz


7、谐波适应:≤3%


8、使用条件:-15℃-50℃相对湿度<80%


9. 尺寸:460(长)×335(宽)×340(高)


10.重量:30公斤


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2007-07-22
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