1.成像方法:成像方法是一种使用ZY显微镜的标记来瞄准和定位成像方法的测量方法。测量时,通常首先用刻线在刻线上对准测试图像的边缘,然后在读数显微镜上读取数值,然后移动工作台以对准测试图像的其他部分。相同的刻线。一方面,再读一遍。两个读数之间的差是DUT的测量值。
2,轴向切割方法:轴向切割方法是一种使用ZY显微镜的标记来对准并定位测试件轴线并在测量刀上使用刻线的测量方法。测量刀是通用显示器的附件。表面上有一条刻痕线,从刻痕线到刀刃的尺寸为0.3和0.9毫米。测量时,将测量刀放在测量刀垫板上,刻痕表面穿过试件的轴线,并且测量刀的边缘与测量表面紧密接触,并且相应的m用直线瞄准,测量两把测量刀之间的距离,并间接测量被测件的测量值。为了避免测量中的计算,在中间的垂直垂直m线的两侧刻有两组四根对称分布的平行线。每组雕刻线和ZX雕刻线之间的距离分别为0.9和2.7 mm,这正是测量工具。切削刃和刻痕线之间的距离是0.3毫米和0.9毫米的3倍。这样,当使用3倍物镜瞄准时,标线片上的0.9和2.7毫米刻线只需按下量刀上的0.3和0.9毫米刻线即可。此时,量刀的刀刃恰好位于m形线的中间。有针对性。主要用于螺距测量。
3.接触方式:接触方式使用ZY显微镜的标记对和通用显示附件靠近试件的测量点,线和表面-光学孔测量装置的双探头。标线瞄准和定位的测量方法。测量时,将光孔测量装置的探头放在零件的表面(内部和外部)上。测量孔径时,首先将探头与测试件的内孔接触,并在获得ZD弦长后,通过双组光学孔将m形线的中间刻线套在中间测量装置,并由显微镜读取读数。数数;然后改变测量方向,使探头与另一侧的测试件接触,而光度线标线的中间刻线仍被光孔测量装置的双线套在中间,并读取在读数显微镜上取另一个数字。两个读数之间的差加上探头直径的实际值,就是试件的内部尺寸;如果减去探头直径的实际值,则是试件的外部尺寸。
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