方块电阻的测试方法和定义

蒸发薄膜导电材料，例如铝膜，导电漆膜，印刷电路板铜箔膜，测量其厚度的ZJ方法是测试其方形电阻。什么是方电阻？正方形电阻是正方形电阻，是指正方形薄膜导电材料的两面之间的电阻，如图1所示，是从B面到C面的电阻值。正方形电阻具有一个特性，即，任何大小的正方形的边对边电阻都是相同的。不管边长是1米还是0.1米，它们的平方电阻都是相同的，因此平方电阻仅与导电膜的厚度相同。有关的。

如何测试平方电阻，我可以使用万用表吗？>万用表的电阻文件可以直接测试图1所示的材料吗？否，因为万用表的测试导线只能测试点到点的电阻。点到点的阻力并不代表任何意义。为了测试方形电阻，首先需要在A侧和B侧压制一个比导电膜要小得多的电阻的圆形铜棒，并且该圆形铜棒具有较高的光滑度，可以与导电膜良好接触。

这样，我们可以通过用万用表测试两个铜棒之间的电阻来测量导电膜材料的平方电阻。如果由于诸如接触电阻和万用表本身的性能等因素，方形电阻相对较小（例如，几欧姆以下），则在使用万用表进行测试时，读数将不稳定且不准确。这时，必须使用特殊的低电阻测试仪器，如毫欧表，微欧表等，进行四端测试。测试方法如下：使用四根光滑的圆形铜棒压在导电膜上，如图2所示。四个铜棒分别用A，B，C和D表示。它们的导线焊接到毫欧表。我们使BC之间的距离L等于导电膜的宽度W。至于AB与CD之间的距离，没有任何要求，一般10--20mm就足够了。连接毫欧表后，毫欧表显示的电阻值为材料的平方电阻值。这种测试方法的优点是：（1）通过这种方法，毫欧表可以测试数百毫欧，数十毫欧，甚至更小的平方电阻。 （2）由于四端子测试，铜棒导电膜之间的接触电阻和铜棒与仪器之间的引线电阻，即使大于被测电阻，也不会影响测量精度。 （3）测试精度高。由于毫欧表和其他仪器的高精度，方形电阻的测量精度主要取决于膜宽W和导体BC之间的距离L的机械精度。由于尺寸较大，因此可以使机械精度较高。在实际操作中，为了提高测试精度和测试长条状材料，W和L不必相等，并且L可以比W大得多。这时，方电阻Rs = Rx * W / L ，Rx是毫欧表的读数。尽管该方法具有高精度，但是更麻烦，特别是当导电膜材料较大并且形状不整齐时，难以测试。这时，需要一个特殊的四点探针来测试材料的平方电阻，如图3所示。

探针被四个探针阻塞，并且四个探针的JD之间的距离必须相等。四个探针通过四根导线连接到方形电阻测试仪。当将探针按在导电膜材料上时，平方电阻计可以立即显示该材料的平方电阻值。具体原理是，外端的两个探针产生电流场，内端的两个探针测试在这两个探针点处由电流场形成的电势。由于平方电阻越大，产生的电势越大，因此可以测量材料的平方电阻。需要指出的是，尽管它们都是四端子测试，但它们在原理上与图2所示的用铜棒测量方电阻的方法不同。因为电流中只有一小部分电流磁场在BC点产生电压（电势）。所示的灵敏度要低得多，比率为1：4.53。

影响通过探针法测量的方电阻精度的因素：

（1）要求探针边缘和材料边缘之间的距离大于探针之间的距离，通常为10倍或更大。

（2）探头之间的距离必须相等，否则会出现比例测试误差。

（3）理论上，探头JD与导电膜之间的接触点越小越好。但是，在实际应用中，针状电极可能会损坏被测试的导电膜材料，因此通常使用圆形探针。

*让我们谈谈实际应用中的问题

<跨度> 1.如果被测导电膜材料的表面不干净，有油渍或材料暴露在空气中的时间过长，则会形成氧化层，这将影响稳定性和稳定性。测试的准确性。测试期间需要注意。

2.探针的探针上存在油也将导致测试不稳定。此时，您可以在干净的白纸上滑动探针并擦拭几次。

＆lt; span＆gt; 3。如果材料是蒸发的铝膜等，并且蒸发厚度太薄，则形成的铝膜不能均匀地连接成一片，而是形成点状分布。此时，平方电阻值将大大增加，这与通过称量方法计算出的厚度和平方电阻不同，因此，此时必须考虑添加校正因子。