介电损耗测试仪说明
BC2690C变频抗干扰介电损耗测试仪用于现场抗干扰介电损耗测量,或实验室精密介电损耗测量。该仪器是一个集成结构,内置电介质损耗电桥,电桥,变频电源,测试变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,实现了自动智能测量,测量数据在强烈干扰下非常稳定。测量结果通过大屏幕LCD显示,并且可以打印出内置的微型打印机。
1.1主要技术指标
精度:Cx:±(读数×1%+ 1pF)
tgδ:±(读数×1%+ 0.00040)
抗干扰指数:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述精度
电容范围:内部高压:3pF〜60000pF / 10kV 60pF〜1μF/ 0.5kV
外部高压:3pF〜1.5μF/ 10kV 60pF〜30μF/ 0.5kV
分辨率:*高0.001pF,4位有效数字
tgδ范围:无限制,分辨率0.001%,自动识别三种类型的样品:电容,电感和电阻。测试电流范围:10μA〜5A
内部高压:设定电压范围:0.5〜10kV
ZD输出电流:200mA
增压方法:连续平滑调整
电压精度:±(1.5%×读数+ 10V)
电压分辨率:1V
测试频率:45、50、55单频
频率精度:±0.01Hz
外部高压:用于正极连接,工频或频率转换40-70Hz的ZD测试电流1A
反向接线时,ZD测试电流为10kV / 1A,工频或频率转换为40-70Hz
CVT自激低压输出:输出电压3〜50V,输出电流3〜30A
测量时间:大约40s,具体取决于测量方法
输入功率:180V〜270VAC,50Hz / 60Hz±1%,由市电或发电机供电
计算机接口:标准RS232接口
打印机:威煌A7热敏微型打印机
环境温度:-10℃〜50℃
相对湿度:<90%
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