奥林巴斯显微镜图像分析仪在金相分析中的应用

在公式中： L －所用测量网格的长度（ < span> mm ）
M －放大观察
N －测量网格 L
L ， M 是已知数字，只需测量 N ，图像分析仪可以获取晶粒尺寸级别。在实际的测量工作中，由于晶粒内部存在各种析出物，腐蚀控制不当导致晶界破裂，给精确测量带来一定的困难。需要使用图像分析仪中的腐蚀和膨胀功能去除晶粒。内部析出物和晶界的重建以获得完整的晶粒图像。

奥林巴斯显微镜 显微组织含量的测定 < span>
定量确定金属材料中微结构的百分比和其他参数，并研究其对机械性能的影响。分析的主要用途之一。例如：确定灰口铸铁，球墨铸铁，铸钢和低碳钢中铁素体和珠光体的百分比；双相钢中马氏体和铁素体的百分比；渗碳淬火硬化层和奥氏体球铁中残留奥氏体的含量；高磷闸瓦中磷共晶的含量；铸造铝合金中共晶硅的含量； β 相含量等。使用图像分析器的基本功能轻松完成这些任务。如果对某种材料的不同基质结构进行定量金相分析，并将其与机械性能进行比较，则可以深入研究微观结构与机械性能之间的定量对应关系。

奥林巴斯显微镜 涂层厚度的测定脱碳层和渗碳层的深度
涂层厚度的测定
<跨度>由于基材在涂层下的表面粗糙度或电镀工艺的影响，涂层的厚度不均匀。为了解决由厚度不均匀引起的测量误差，图像分析仪在测量涂层时首先显示显示屏。在涂层横截面的屏幕上，画出许多彼此平行且垂直于涂层表面并穿过涂层的线，以便每条线都可以测量涂层的厚度，然后进行处理数据以获取涂层的平均厚度，ZD厚度，最小厚度和其他参数。如果被测物体是一根很小的金属线，其圆周上有涂层，则拍摄其横截面图像，并沿径向从其ZX以不同角度绘制许多直线，这也可以进行测量。
确定脱碳层和渗碳层的深度 < br> 首先测量矩阵结构的铁素体含量，然后在屏幕上画一条平行于表面的可移动线，然后计算通过该线的铁素体含量。随着线向ZX移动，当找到与基体中铁素体含量匹配的区域时，从直线到表面的距离就是脱碳层或渗碳层的深度。