显微镜带进化工原料测量设备的领域

　　国际**的化工原料生产商选定岱美为供货商, 为其下电子材料技术ZX提供 FEI Dual Beam System (SEM/FIB).

　　FEI把*新的FIB和电子光学技术融为一体, 并结合独特的环境扫描电镜(ESEM)技术, 为用户带来更大的应用灵活性和通用性.

　　设备主要特点:

　　- FIB*大束流达到65nA,FIB加工速度大幅度提高

　　- 电子光学技术*大束流200nA, 分辨率1.2nm, 同时满足高分辨和能谱/EBSD/波谱分析功能

　　- 环境扫描(ESEM)技术,可观察所有样品; 支持所有环境扫描电镜附件(如加热台)

　　- 大样品室可安装各种附件和微操控系统

　　- *新软件技术, 如AutoTEM G2, 三维重构软件等

　　- 基于Windows XP的系统控制软件, *佳的用户接口