冠层分析仪

冠层分析仪又叫叶面积指数仪，顾名思义是测定植物冠层结构的仪器。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，测算植物冠层的太阳直射光透过率、叶面积指数等，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。冠层分析仪可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析;可对农田作物群体生长过程进行动态监测;也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。