小角X射线散射仪的的性质和发展

小角X射线散射为一种与X射线大角（2θ从5 ～165 度）衍射有所不同的结构分析方法。通过X射线对样品进行照射，相应的散射角2θ比较小，只有5-7度，此就称为X射线小角散射。对粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布加以测定以及对分析特大晶胞物质的结构进行分析，即为X射线小角散射的用途。对于高分子材料而言，能够测量玻璃化转变温度，能够分析共混的高聚物相结构以及能够对高分子粒子或空隙大小和形状进行测量。

性质

物质内部1-100纳米量级范围内电子密度的起伏为小角散射提供了效益，当在一超细粉末层有一束极细的x射线穿过时，X射线利用粉末颗粒内电子的散射在原光束附近的极小角域内分散开来，粉末粒度及分布对于散射强度分布有着较为密切的影响。

发展

在20世纪初，比可见光波长小的辐射被伦琴发现了。因为完全不了解该射线性质，其被伦琴叫做X射线 (X-ray)。

到20世纪30年代，固态纤维和胶态粉末被人们当作研究物质，使得小角度X射线散射现象被人们发现。当将X射线往试样上照射时，若有纳米尺度的电子密度不均匀区存在于试样内部时，那么散射X射线就会在入射光束周围的小角度范围内（通常2=<6º）出现。这种现象就叫做X射线小角散射或小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering），简写为SAXS。散射体和周围介质的电子云密度的不同为它的物理的实际性质。SAXS已经成为了对亚微米级固态或液态结构加以研究的非常有利的工具。