X射线光电子能谱仪,为一种表面分析技术,对材料表面元素及其化学状态进行表征为其主要的用途。使用X射线和样品表面相互作用,通过光电效应,对样品表面进行激发,使光电子发射,光电子动能通过能量分析器加以测量。按照B.E=hv-K.E-W.F,从而使激发电子的结合能(B.E)获得。
技术指标
1、A1/Mg双阳极靶
能量分辨率:0.5eV
灵敏度:255KCPS,
使用多通道检测器(MCD)
2、AES:
分辨率:0.4%,
电子枪束斑:75nm ,
灵敏度:1Mcps
信噪比:大于70:1
角分辨:5°~90°.
3、主真空室:1×10-10 Torr
4、XPS:0.5eV
研究领域
1、纳米分析化学及纳米发光材料研究
2、有机电致发光材料的表面化学研究
3、在香烟减毒净化上纳米材料的应用研究
4、无机纳米杀菌与kang菌材料和其在饮用水净化上的作用
5、电解水制氧电极材料的研究
6、二氧化钛纳米光催化和在空气和水净化方面的应用
7、汽车尾气净化催化剂新型金属载体的研究
8、纳米药物载体及靶向药物的研究
9、纳米导电陶瓷薄膜材料的研究
10、纳米杂化超硬薄膜材料及摩擦化学的研究
主要用途
XPS:分析固体样品的化学状态以及表面组成,10纳米之内为其取样讯息深度,如下为其功能:
1、线或面上的元素或化学态分布能够通过线扫瞄或面扫瞄得以获得。
2、成像功能
3、能够进行样品的原位处理 AES:
(1)能够进行深度分析,研究高分子材料、摩擦化学、催化剂、微电子材料以及纳米薄膜材料的表面和界面研究均比较合适。
(2)能够进行包含点分析,线分析和面分析样品表面的微区选点分析。
4、表面定性与定量分析。比10微米还要小的空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯能够被获得。
5、维持小于10空间的的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析(团簇离子或氩离子刻蚀方式,角分辨方式)
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