三维表面形貌仪

三维表面形貌仪简介：三维表面形貌仪采用国际领先的白光共聚焦技术，最高扫描速度可达1m/s，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，测量不受样品反射率和光的影响，测量简单，可用于测量大尺寸样品，如透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料等，主要应用于半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。