开尔文探针扫描系统

开尔文探针扫描系统简介：开尔文探针扫描系统简是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在ASKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置。它可用于测量材料的功函数或表面势，也可以用于检测气相环境中因温度、湿度、表面的化学、电学、力学、晶体、吸附、成膜等因素引起的材料表面电势的微小变化，是一种高灵敏的表面电化学分析技术，用于吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积等领域。