薄膜测厚仪

薄膜测厚仪简介：薄膜测厚仪又称薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪，适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。它是基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数，通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用相应的软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度。薄膜测厚仪具有测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。