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贵金属检测行业应用解决方案
发布:
江苏天瑞仪器股份有限公司
时间:
2010-03-05
行业:
地矿
稀有/稀土/贵金属
据GB/T18043-2008贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法,X射线荧光光谱可用于贵金属首饰表层含量的测定及委托检验和生产企业内部管理由于首饰产品的特殊情况,受方法原理的限制,在使用本方法检测时可能会受以下几个方面影响:
文件大小:
37.5KB
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