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光致发光影像系统针对晶体硅太阳电池测试的解决方案
发布:
北京卓立汉光仪器有限公司
时间:
2012-02-22
行业:
电子/电气/通讯/半导体
电池/电源
卓立汉光Helios 光致发光影像测试系统可以快速测量晶体硅的少子寿命,并同时得到表征材料缺陷分布的二维影像在太阳电池片生产流程中,这些信息可以用于进料在线筛选和制程工艺监控,从而使每一个制程都Zyou化通过测量校正过的光致发光影像,可以定量测量太阳电池原材料的缺陷分布和杂质含量水平 太阳能电池I-V特性测量系统 光致发光影像系统--Helios
文件大小:
23KB
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