硫化铟薄膜材料的拉曼光谱研究

本文通过分析304 cm-1930 cm-1处拉曼峰位的红移进一步证实了Cu掺杂后薄膜晶粒尺寸增大，
通过缺陷程度的变化证明了Cu掺入 晶格间隙的掺杂机理

激光显微共聚焦拉曼光谱技术是一种无损伤无接触灵敏度高的检测手段，通过晶体的拉曼光
谱可以了解晶格内部有关化学键晶格程度晶格畸变以及相变等信息，为薄膜在太阳能电池导
电材料光电器件催化传感等领域的应用提供理论指导与实验依据 研究级激光共聚焦显微拉曼光谱仪 Finder Vista