Auto SEZ简便的薄膜测量工具

Auto SE是一款创新性的薄膜测量工具，可测量薄层多层膜厚度和光学常数(n,k)
HORIBA Jobin Yvon 推出的这款仪器在保留椭圆偏光法测量优点(如非破坏性，膜厚测量极ng确至埃米，可测量多层膜等)的同时，大大简化了测量过程
Auto SE 可广泛应用于微电子平板显示光伏器件生物技术化学和功能涂层光学镀膜等各个薄膜应用领域 一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE